當前位置:北京錦正茂科技有限公司>>霍爾效應測試系統>> 定制實驗室霍爾測試儀變溫霍爾效應測試系統 實驗室儀器設備
加工定制 | 是 | 用途 | 用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數 |
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本儀器系統由:電磁鐵、高精度電源、高斯計、高精度恒流源、高精度電壓表、霍爾探頭、電纜、標準樣品、樣品安裝架、系統軟件。為本儀器系統專門研制的JH10 效應儀將恒流源,六位半微伏表及霍耳測量復雜的切矩陣開關組裝成一體,大大減化了實驗的連線與操作。JH10 可單獨做恒流源、微伏表使用。用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數,而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具。 實驗結果由軟件自動計算得到,可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等等。 定制實驗室霍爾測試儀變溫霍爾效應測試系統
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可測試材料: ?
半導體材料:SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料,低阻抗材料:石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料,高阻抗材料:半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等
定制實驗室霍爾測試儀變溫霍爾效應測試系統
樣品測試:
設置控制電流、磁場和霍爾片厚度,點擊“開始測試"按鈕,軟件將完成一鍵測試過程,直至計算出所有霍爾參數。每次測試完后,可選擇保存該計算結果值,然后點擊“清除顯示"按鈕,以進入下一次測試。
若保持磁場大小不變,改變控制電流的大小,可通過畫圖操作觀察Is 與 VH的關系;若保持控制電流大小不變,改變磁場的大小,可通過畫圖觀察 B 與 VH 的關系。
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