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凱戈納斯儀器商貿(上海)有限公司
microLED表征系統
InZiv采用專有技術,提供的工具,用以檢測、識別和表征microLED、OLED和QLED所顯示的越來越小的像素。從而,使顯示器制造商和能夠實現其技術潛力和商業目標。
MicroLED像素的光學特性、光譜特性和結構特性,以及缺陷
適用于檢測缺陷區域的大片晶圓
納米級光致發光和電致發光像素
亞微米量級缺陷
亞像素的光學特性、光譜特性和結構特性
樣品完整性 – 晶圓、顯示面板和像素無破損
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