儀器簡(jiǎn)介：
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶(hù)眼見(jiàn)為實(shí)，更加直觀人性化。通過(guò)子體積的掃描，來(lái)自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來(lái)。此外，顆粒濃度也可以通過(guò)視頻計(jì)數(shù)分析得到。
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView的特點(diǎn) - 全自動(dòng)和無(wú)源穩(wěn)定性
自動(dòng)校準(zhǔn)程序會(huì)持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設(shè)計(jì)提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過(guò)掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。有3種測(cè)量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。
理論
平移擴(kuò)散常數(shù)可通過(guò)直接觀測(cè)待測(cè)顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)計(jì)算得到。通過(guò)測(cè)試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析（NTA）和動(dòng)態(tài)光散射（DLS）
所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問(wèn)題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的低檢測(cè)限是0.5nm，對(duì)于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測(cè)限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對(duì)于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，zetaview可以非常圓滿(mǎn)的完成檢測(cè)任務(wù)。相反，對(duì)于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。
測(cè)量范圍
測(cè)量范圍依賴(lài)于樣品和儀器。對(duì)于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測(cè)下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測(cè)下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測(cè)量的粒徑上限為50微米，對(duì)于粒徑測(cè)量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)
顆粒濃度可通過(guò)視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對(duì)粒徑。可檢測(cè)的小濃度為105粒子/cm3，大為1010粒子/cm3。對(duì)于200nm的顆粒，大體積濃度為1000ppm。
準(zhǔn)確度和精度
Zeta電位：準(zhǔn)確度5mv，精度4mv，重現(xiàn)性5mv；
粒度測(cè)試（對(duì)于100納米的標(biāo)準(zhǔn)乳膠顆粒）：準(zhǔn)確度6nm，精度4nm，重現(xiàn)性4nm；
濃度測(cè)試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準(zhǔn)確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現(xiàn)性1Mio/ml；
只要相機(jī)設(shè)置正確，樣品處理適當(dāng)，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效。
方法
Zetaview激光散射顯微鏡對(duì)于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。
技術(shù)參數(shù)
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