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上海艾堯科學(xué)儀器有限公司
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更新時(shí)間:2022-07-12 13:45:52瀏覽次數(shù):240次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線Alemnis電鏡原位納米壓痕儀
掃描電鏡專用原位納米壓痕儀
瑞士Alemnis公司位于風(fēng)景秀麗的瑞士圖恩,它是瑞士聯(lián)邦材料科學(xué)與技術(shù)研究所(EMPA)的獨(dú)立子公司,于2008年成立。依托于EMPA的強(qiáng)大研發(fā)能力和技術(shù)支撐,Alemnis公司專注于原位納米壓痕儀的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。
瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀是一款結(jié)構(gòu)緊湊,功能多樣的儀器,可與眾多測(cè)試和成像設(shè)備集成,并可用于多種不同的應(yīng)用場(chǎng)景。
瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀適用于掃描電子顯微鏡(SEM)的原位測(cè)量,也可用于同步輻射裝置和光學(xué)顯微鏡的常規(guī)環(huán)境中使用。
這款原位納米壓痕儀是市場(chǎng)上一款能夠提供真正形變控制模式的儀器,可為許多材料測(cè)試和各種應(yīng)用領(lǐng)域提供的靈活性、準(zhǔn)確性和真正的原位納米機(jī)械性能測(cè)試。
Alemnis的納米壓痕儀可經(jīng)過(guò)改裝,升級(jí)模塊后,可在高剪切應(yīng)變下進(jìn)行動(dòng)態(tài)機(jī)械性能測(cè)試,并可在超高溫條件下進(jìn)行測(cè)試。
技術(shù)規(guī)格:
主壓痕模式:真形變
壓痕深度:35μm
形變本底噪聲:<>
室溫下的典型漂移:5nm / min
載荷范圍:標(biāo)準(zhǔn)500mN/選配1.5N
載荷本底噪聲:4uN
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