能量色散型X熒光光譜儀原理
由高能X射線激發原子電子層，使得原子核外電子發生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統測量這些能量和數量，從而計算元素含量。
1.X熒光光譜儀介紹
目前使用XRF分析儀對貴金屬進行化學成份分析及純度成色判斷已經成為一種廣泛應用、極受歡迎，并且有國家標準的支持，且性能可靠的方法。與火花試金法和化學試劑測試法相比，使用XRF對貴金屬進行分析是一種更迅速、更經濟的多元素檢測方法。
佳譜儀器生產的PM-450 XRF分析儀為用戶提供了一種操作方便，且性價比很高的檢測技術:無需將檢測工具探入到被測樣件的材料中，也不會損壞被測樣件，即可獲得樣件的合金化學成份信息，判斷出樣件的克拉等級。無論您是購買黃金等貴金屬，還是出售或生產珠寶，或是制造金屬，抑或是回收廢舊金屬，您都需要掌握一種可以極為精確地判斷克拉等級以及其它貴金屬與非貴金屬含量的快速方法，在第一時間， 以有效地控制產品質量，制定合理的價格。
2.PM 450優勢
超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面。易于使用，一鍵操作，即可獲得克拉等級及組成成份的分析結果。有助于識別鍍金樣件的創新型功能。機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室。按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件的化學成份和克拉等級的精確結果。使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書。用戶通過攝像頭及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶對測試信心。PM-450分析儀測試數據可以下載和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享。有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用。
3.技術參數
1、高壓電源：0-50KV
2、光管電壓：5-50KV
3、光管管流：0-1000μA
4、探測器：SDD
5、分辨率：129±5eV
6、測試時間：30-100s
提供商 |
佳譜儀器（蘇州）有限公司 | 下載次數 |
17次 |
資料大小 |
72.3KB | 資料類型 |
PNG 圖片 |
資料圖片 |
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