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STS-NIR 近紅外光譜儀

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產品型號

品       牌其他品牌

廠商性質0

所  在  地北京市

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更新時間：2022-10-18 09:51:31瀏覽次數：134次

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聯系人：楊淑君 （經理）

產品簡介

超小體積的近紅外光譜儀


不論是進行低濃度吸收光譜測量還是高強度激光特征鑒定，STS-NIR都能滿足您的需要。其范圍為650 - 1100nm。堅實牢固的設計和臺間一致性使得STS成為設備集成或小體積應用的理想選擇。

詳細介紹

超小體積的近紅外光譜儀


不論是進行低濃度吸收光譜測量還是高強度激光特征鑒定，STS-NIR都能滿足您的需要。其范圍為650 - 1100nm。堅實牢固的設計和臺間一致性使得STS成為設備集成或小體積應用的理想選擇。

產品詳情


  • 緊湊小巧 -- 實際尺寸為40 x 42 x 24 mm

  • 功能強大 --高信噪比（>1500:1）和動態范圍（4600:1）

  • 熱穩定性 -- 峰形能在較大溫度范圍內保持穩定不變

  • 成本效益 -- 1.5nm的光學分辨率可以同臺式光譜儀相媲美

  • 可重現性 -- 為OEM廠商提供美觀的設計

  • 即插即用 — 輕松與其它設備連接和適配



規格



工程規格

STS-NIR

尺寸

40 mm x 42 mm x 24 mm

重量

68 g

探測器

ELIS1024

波長范圍

650-1100 nm

積分時間

10 μs - 10 s

動態范圍

5 x 109（系統，最長10秒積分時間），約4600單次采集

信噪比

>1500:1（zui大信號）

暗噪聲

≤3 counts rms

光柵

600 g/mm

狹縫

10, 25, 50, 100或200 μm

探測器聚焦透鏡

無

定制濾光片

無

光學分辨率

  • 1.0 nm (10 μm狹縫)

  • 1.5 nm (25 μm狹縫)

  • 3.0 nm (50 μm狹縫)

  • 6.0 nm (100 μm狹縫)

  • 12.0 nm (200 μm狹縫)

雜散光

≤0.25% @ 850 nm

光纖連接器

SMA 905



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