一、產品簡介

Bettersize3000激光圖像粒度分析儀的激光散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統，同時設一個大約15倍的成像系統用來查看粗顆粒（>50μm）圖像和測量Z大粒徑（D100）。

雙鏡頭斜入射光學系統是由大功率泵浦偏振激光器、進頭組、石英樣品池和全角度光電探測器陣列組成。由于采用了高性能的鏡頭和*的激光斜入射結構，在單光束條件下實現了全角度散射光信號的接收——這是百特原創的技術。這種技術不僅達到了進口儀器的用多光束技術來擴大散射光角度的效果，還避免了多光束技術造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差，使測試結果更準確，同時實現了對納米、微米甚至毫米級樣品的準確粒度測試。由于探測器數量多和結構*，該儀器具有分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。同時，該儀器還具有樣品折射率測量計技術、自動對中技術、防干燒超聲波分散技術、SOP技術、大功率短波長偏振光技術等，進一步保證了重復性、準確性和分辨力。

單路顯微成像系統并聯在激光散射系統中，可隨時拍攝流動中的粗顆粒圖像。更重要的是，這個顯微成像系統能準確捕捉到樣品中的Z大顆粒，實現了D100的有效測量，彌補了激光粒度儀無法測試D100的缺憾，為鋰電池等領域提供了準確測試D100的可靠手段。

Bettersize3000激光圖像粒度粒形分析儀還具有折射率測量技術、自動測試技術、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗技術、顆粒圖像快速識別技術、樣品復配技術等，綜合性能達到或超過進口儀器水平，特別適合大企業、高校、研究院所等實驗室。

二、主要技術指標與性能

三、主要應用領域

• 各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。

• 各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。

• 其它粉體：河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙填料涂料、各種乳濁液等。

四、突出特點

• 斜入射雙鏡頭技術：百特技術，采用激光斜入射技術，結合前向、側向和后向散射光探測技術，達到全角度測量，擴大了測量范圍，提升了細顆粒端的測量精度，提升了分辨率。

• 樣品折射率測試技術：對未知折射率的樣品可以先測量折射率，包括實部和虛部，保證了粒度測試的準確性。

• 自動循環分散與自動測試技術：防干燒超聲波分散器、離心循環泵、自動進水系統、自動排水和溢水系統，適用于所有樣品，保證了樣品充分分散，保證了測試的準確性和重復性。

五、良好的重復性

• 穩定有效的分散系統。

• 激光器、探測器、信號傳輸系統穩定可靠。

• 自動對中系統使儀器始終保持在理想狀態。

• 采樣速度達3500次/秒，大量數據有效減少少數異常數據對重復性的影響。

六、良好的準確性

• 通過標準樣品驗證，結果與標稱值一致。

• 采用百特發明的雙鏡頭光學系統，大大提升了測量精度。

• 探測器數量96個，高性能軟件，無論樣品是單峰、雙峰還是多峰都能準確自動測試。

• 完善的樣品制備系統包括循環、超聲波分散、攪拌、自動進水、自動排水和自動清洗。