EIGER2 XE CdTe探測(cè)器系統(tǒng)使終端線站能夠達(dá)到X射線研究的新高峰。為了充分利用*的新型同步輻射光源在更高能量下不斷增加的光子通量，DECTRIS（德科特思）將 EIGER2 XE CdTe 探測(cè)器系列提升到了新的極限。EIGER2 XE CdTe 9M和16M不僅提供超高的107次/秒/像素的計(jì)數(shù)率能力和第二個(gè)能量識(shí)別閾值，而且?guī)室脖惶岣叩?00赫茲以上。

詳細(xì)介紹

1.EIGER 2 XE CdTe

EIGER2 XE CdTe探測(cè)器系統(tǒng)使終端線站能夠達(dá)到X射線研究的新高峰。為了充分利用*的新型同步輻射光源在更高能量下不斷增加的光子通量，DECTRIS（德科特思）將 EIGER2 XE CdTe 探測(cè)器系列提升到了新的極限。EIGER2 XE CdTe 9M和16M不僅提供超高的10⁷次/秒/像素的計(jì)數(shù)率能力和第二個(gè)能量識(shí)別閾值，而且?guī)室脖惶岣叩?00赫茲以上。使用 EIGER2 XE CdTe 探測(cè)器實(shí)現(xiàn)您極有潛力的項(xiàng)目，并為未來(lái)做好準(zhǔn)備。

2.EIGER2 X CdTe

EIGER2 X CdTe 探測(cè)器適用于需要在高能量下獲得超高分辨率和幀速率的科學(xué)家。您現(xiàn)在可以以75μm 的單像素級(jí)空間分辨率檢測(cè)能量高達(dá)100keV的光子。由于無(wú)死區(qū)時(shí)間讀數(shù)，您不會(huì)在幀之間丟失光子。第二個(gè)能量區(qū)分閾值允許您在兩個(gè)能量箱中對(duì)樣品進(jìn)行成像或削減高次諧波，以減少背景噪音。以10⁷光子/秒/像素的超高計(jì)數(shù)率能力準(zhǔn)備您的未來(lái)光束實(shí)驗(yàn)站。

EIGER2 X CdTe探測(cè)器將超高性能與易于集成和操作結(jié)合在一起。

3.核心優(yōu)勢(shì)

– 直接探測(cè)X射線，使得無(wú)圖像延遲或余輝。

– 計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素，符合第四代同步輻射光源的計(jì)數(shù)率。

– 雙能量閾值抑制噪音，提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

– 在*幀速率下使用電子門控觸發(fā)技術(shù)實(shí)現(xiàn)快速可靠的探測(cè)。

– 多種傳感器尺寸以實(shí)現(xiàn)多角度覆蓋。

4.應(yīng)用領(lǐng)域

–x射線衍射(單晶和粉末) (文章:歐洲光源ESRF的應(yīng)用實(shí)例)

–現(xiàn)場(chǎng)和原位技術(shù)

–衍射顯微鏡和層析成像

–漫散射和對(duì)分布函數(shù)

–勞厄衍射

–大分子晶體學(xué)(MX)

–高壓研究（視頻: APS 的高壓 XRD 研究）

5.技術(shù)規(guī)格

	EIGER2 X CdTe					EIGER2 XE CdTe
型號(hào)	500K	1M	4M	9M	16M	9M	16M
有效面積：寬x高 [mm2]	77.1 x 38.4	77.1 X 79.7	155.1 x 162.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2
像素大小 [μm2]	75 x 75
總像素?cái)?shù)量	1028x512	1028x1062	2068 x 2162	3108 x 3262	4148 x 4362	3108 x 3262	4148 x 4362
間隙寬度, 水平/垂直（像素）	-/-	-/38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38
*大幀頻 [Hz]**	2000	2000	500	230	130	550	550
計(jì)數(shù)器深度 [ bit ]	16	16	16	16	16	16	16
讀出時(shí)間	連續(xù)讀數(shù)
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)	1 pixel
傳感器材料	CdTe
傳感器厚度 [μm]	750
能量范圍 [keV]	8-100
計(jì)數(shù)率 [ph/s/pixel]	107
尺寸（WHD）[mm3]	114 x 92 x 242	114 x 133 x 242	235 x 237 x 372	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500
重量 [kg]	3.7	4.7	15	41	55	41	55
冷卻方式	水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)）	水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)）	水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)）	水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)）	水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)）	水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)）	水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)）

**所有規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

北京優(yōu)納珂科技有限公司為您提供EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的參數(shù)、價(jià)格、型號(hào)、原理等信息，EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計(jì)數(shù)探測(cè)器產(chǎn)地為瑞士、品牌為德科特思，型號(hào)為EIGER2 X/XE CdTe，價(jià)格為面議，更多相關(guān)信息可電話咨詢，公司客服電話7*24小時(shí)為您服務(wù)!

關(guān)鍵詞：傳感器顯微鏡

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