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上海禹重實業有限公司
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FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（ESEM）和兩個DualBeam系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科學實驗室和生命科學實驗室的成像要求
FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（ESEM™）和兩個DualBeam™系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科學實驗室和生命科學實驗室的成像要求。Quanta系列的掃描電子顯微鏡，是一款多功能，高性能儀器與任何SEM系統的樣本，以適應范圍的三種模式（高真空，低真空和ESEM）。如能譜儀，波長色散X射線光譜儀和電子背散射衍射分析系統，可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡系統。
FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡可用于研究各種材料并表征材料的結構與成分，同時提供的靈活性，提高了性能與通用性，可應對當今廣泛研究領域的各種挑戰，滿足多方需要。觀察樣品，獲取所有相關數據：將顯微鏡附件與表面形貌和成分圖像結合使用，確定材料特性及其化學元素組成。
導航功能包括自動 Montage 導航、樣品臺移動雙擊控制、拖放變焦和其他有用的標準結合功能。SmartSCAN™ 技術采用智能掃描策略，可減少噪聲，提供質的數據。其他新功能包括可提高低加速電壓 (kV) 性能的射束減速功能、Nav-Cam™ 彩色圖像導航和使 Quanta FEG 系列具備更大靈活性的新型伸縮式檢測器等。
采用環境掃描顯微 (ESEM) 技術，打造wei一的高分辨率 FEG-SEM 產品
可表征導電和非導電樣品，且在各操作模式下均可能實現二次電子 (SE) 和背散射電子(BSE) 成像
限度減少樣品制備量；低真空和環境掃描 (ESEM) 功能可實現無電荷成像，并能實現對絕緣樣品和含水樣品的分析
在 Quanta 的“經由透鏡抽氣”zhuan利技術產生的高真空和低真空環境中對導電和非導電樣品進行能譜 (EDS) 和電子背散射 (EBSD) 分析，以提高分析能力。穩定的高射束電流（達到 200 nA）可實現快速、準確的分析
在原位樣品臺上可對各種保持自然狀態的樣品進行動態原位分析，分析溫度高于或低于環境溫度，變化區間從 165 °C 到1500
使用可選的射束減速模式能進行表面成像，以從導電樣品中獲取表面和成分信息
易用，直觀的軟件讓新手也能高效操作
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