Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是**研發出的一款基于ESCALAB 250Xi產品后，具有可擴展功能、多種分析技術集成化的測試手段。該產品通過的靈活性、完備的專業配置選項、直觀的軟件操作以及硬件配置，帶給用戶的是*****的的實驗結果和生產力。強大的Avantage數據系統提供系統控制、數據采集、數據處理與系統運行報告等一站式服務。
入圍**新品獲獎理由：
***的成像探測器設計，用于定量XPI成像：電子倍增器和電阻陽極探測器的雙探測器設計，可實現高性能的XPS采譜和高空間分辨的XPS成像的需求。空間連續的電阻陽極探測器創新技術，一方面使得XPI成像分辨率達1um，另一方面使得XPI成像得到數據無探測器背底特征，無需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像結果。可選配的EDS探測器，實現體相分析技術和表面分析技術的結合：新設計Xi+系統可選配EDS探測器與俄歇電子*結合，可實現樣品納米尺度的體相微區元素成分分析，EDS可探測微米深度的元素組成，可以用于材料深度剖析前的元素組成預判。體相敏感的EDS技術和XPS表面分析技術的結合可更直觀地用于研究合金等的表面偏析行為。標配的反射電子能量損失譜REELS分析技術，用于彌補UPS能帶分析和XPS元素分析： REELS可以探測材料的能級和帶隙結果，并可用于材料中H元素含量的定量。與UPS技術結合可了解完整的價帶導帶信息，并彌補XPS、AES等技術不能檢測H元素含量的缺陷發展的系列基于Xi+的成熟準原位樣品處理、制備、反應系統: 基于Xi+，設計的一系列成熟的ALD、MBE樣品制備系統，高溫高壓催化還原反應系統和樣品退火系統，滿足不同的科研項目需求。

性能特點

配備為提供** XPS 性能而設計的單色化X射線源，確保ESCALAB Xi+ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針有**的樣品測試通量。多技術能力、一系列靈活的樣品制備室及樣品處理設備，使該儀器在解決任何表面分析問題時都能游刃有余。利用*的 Avantage 數據采集和處理系統，從測試數據中挖掘盡可能多的信息。

ESCALAB Xi+ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針的特點：

高靈敏度能譜
小面積 XPS
深度剖析能力
角分辨 XPS
標配離子散射能譜 (ISS)功能
標配反射電子能量損失譜 (REELS)功能
標配“樣品預處理"室
多技術分析的多功能性
多個樣品制備技術可選
全自動無人值守式分析
多樣品分析
單色化X射線源

雙晶體微聚焦單色器配備一個 500 mm 直徑的羅蘭圓，使用鋁陽極靶
樣品 X 射線光斑尺寸可選擇范圍為 200 至 900 μm
透鏡、分析儀和檢測器

透鏡/分析器/檢測器一體化使 ESCALAB 250Xi XPS 能譜儀同時具備成像和小面積 XPS 分析能力的性
兩種類型的檢測器可以確保為每種分析提供**檢測——二維檢測器用于成像，基于通道電子倍增器的檢測器則用于需要檢測高計數率的能譜分析
透鏡配備了兩種電腦控制的光闌組件，一套視場光闌用于控制低至 <20 μm 的分析區域，適用于小面積分析；另一套光闌則用于控制透鏡的接收角，對于高質量角分辨 XPS 至關重要
180° 半球型能量分析器
深度剖析

數控式 EX06 離子*是一款高性能的離子源，哪怕在使用低能離子源時也有著很好的性能
提供方位角樣品旋轉
多技術能力

可配備其他分析技術而不降低 XPS 檢測性能
使用 EX06 離子*時透鏡組和能量分析儀的電源可反向（確保離子散射能譜 (ISS) 可用）
電子*可加壓升至 1000 V，為 REELS 提供優異的離子源
技術選項

非單色化 X 射線光源的XPS分析
AES（俄歇電子能譜）
UPS（紫外光電子能譜）
真空系統

5 mm 厚高導磁?金屬分析室，****提高磁屏蔽效率
與使用內部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳
樣品制備

系統標配一體化的快速進樣室和制備室
額外的制備室可選
Avantage 數據系統

集成了測試分析的所有方面，包括儀器控制、數據采集、數據處理和報告生成
允許遠程控制，并且可輕松與第三方軟件交互（例如 Microsoft Word）
管理從樣品載入到報告導出的整個分析過程