納米粒度分析儀：N4Plus是采用激光法測超細(xì)顆粒的儀器，激光法測顆粒度，是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法，即利用運(yùn)動著的顆粒所產(chǎn)生的動態(tài) 的散射光，通過光子相關(guān)光譜分析法PCS（Photon Correlation Spectroscopy）分析納米顆粒粒度，其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高。

詳細(xì)介紹

納米粒度分析儀

納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)

           1.測量范圍： 3-3,000nm
           2.測量時間：30-180秒
           3.重現(xiàn)性：優(yōu)于3%CV
           4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個峰
           5.精度： 2－5%

主要特點(diǎn)

1.是采用六個角度（在0-900C角度范圍）檢測的儀器
2.的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類型

Zeta電位和分子量分析儀的技術(shù)參數(shù)

1、粒徑測量
粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測角度: 175o 和 12.8o
最小樣品量: 12 μl

2、Zeta電位測量
Zeta電位范圍: 無實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無實(shí)際上限
樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
樣品濃度: 40% w/v
最小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

3、分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * （動態(tài)光散射）
980 - 2 ×10⁷Da * （靜態(tài)光散射）
最小樣品量 12 μl

* 取決于樣品

以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，環(huán)保在線對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

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