SFP-QV表面塵埃粒子計數器

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更新時間：2022-10-23 16:28:21瀏覽次數：157次

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產品簡介

SFP-QV表面塵埃粒子計數器 Surface Particle QV 表面塵埃粒子計數器用于測量各種高潔凈度要求的產品，光學鏡片組件、液晶面板及超凈微環境受控的半導體機臺等表面所附著的塵埃粒子的粒徑大小及單位面積內的數量。 ......

詳細介紹

儀器詳情Particulars

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Surface Particle QV 表面塵埃粒子計數器用于測量各種高潔凈度要求的產品，光學鏡片組件、液晶面板及超凈微環境受控的半導體機臺等表面所附著的塵埃粒子的粒徑大小及單位面積內的數量。

SFP-QV表面塵埃粒子計數器產品簡介：

核心零部件(光學傳感器)及控制器等采用美國萊特浩斯所生產的組件來保證該產品的測量精度。

外殼采用SUS316L不銹鋼制作，并經表面鈍化處理。彩色觸摸液晶屏顯示操作，檢測光學傳感器采用美國進口整機，

吸氣的氣泵為旋片式進口氣泵，并可通過流量傳感器來自動調節氣泵的運行流量，使其保持在一個穩定的檢測流量范圍內，

表面測試探頭根據德國同類產品進行改良優良，并配有防靜電軟管與主機連接，其于用排氣及吸氣過濾的囊式過濾器。內部濾材為德國進口，從而保證儀器的檢測精度及運行穩定性。

表面粒子計數器由三部分組成：

掃描取樣頭：取樣的同時可以提供一定壓力的吹掃氣流，可以集成操作控制器;

激光塵埃粒子計數器主機：主要由氣泵、傳感器、主控板、過濾器以及電池組成;

連接主機與掃描采樣頭的管道：包括取樣管道與吹掃管道。

SFP-QV表面塵埃粒子計數器.jpg

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儀器參數Technical data

中科匯儀網，我們會努力按照原廠技術參數翻譯編輯，如技術參數中英文有差異，以英文參數為準。

SFP-QV表面塵埃粒子計數器技術參數：

檢測精度	0.3μm（0.1μm可定制）
檢測通度	0.3、0.5、0.7、1.0、3.0、5.0、7.0、10.0μm八通道（可定制：0.1、0.15、0.2、0.25、0.3、0.5、0.7、1.0μm）
計數效率	0.3μm 50%±20%（一粒徑通道） 0.5μm 99%±10%（二粒徑通道）
采樣流量	28.3L/min ±5%，可通過觸摸屏控制自行調整
采樣時間	0～24h
重復性	相對標準偏差≤10%
粒徑準確度	相對誤差≤10%
自凈時間	≤10 min
光源	激光二極管，經過特殊工藝優化理論壽命為20年（MTT）或壽命大于40000小時
顯示方式	觸摸顯示屏
允許大采樣濃度	35000顆/L(塵埃顆粒粒徑不小于0.3um)，采樣空氣中不得含酸堿等腐蝕性氣體
外形尺寸	260mm×260mm×260mm
重量	7.5kg
大功耗	35W
電源	16.8V內置鋰電池/DC16-24V外部寬電壓供電
粒徑通道	0.3um、0.5um、1.0um、3.0um、5.0um、10.0um
采樣周期	3s、6s
數據存儲	5000組
表面材質	SUS316L
連續工作時間	8小時
使用環境條件	溫度：10-35℃ 濕度：20-75RH 大氣壓：86-106kPa
零計數	≤10分鐘內連續3分鐘為0
執行標準	ISO/FDIS 21501-4:2018、GB/T 6167-2007、JJF 1190-2008
采樣口徑	1/4"Flaretek™
采樣溫度	32-302°F（0-150℃）
操作界面	彩色觸摸屏控制便于操作和設定，能同時顯示6個通道的數據，分辨率320×240，屏幕數據縮放功能
輸出方式	內置熱敏打印機或485協議
電源	AC100～240V 50～60HZ
語言	中、英、德、日等多國語言
保修	兩年（儀器自身質量）