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蘇州恒測新材料有限公司
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冷場發射掃描電子顯微鏡
| 儀器照片 | 
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| 儀器名稱 | 場發射環境掃描電子顯微鏡 |
| 儀器型號 | 美國FEI Quanta 400 FEG |
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儀器簡介 | Quanta FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢，可對各種各樣的樣品（包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。 |
| 技術參數 | ?MonoCL3+陰極熒光譜儀，波長范圍160-930nm ?電子束感生電流（EBIC） ? STEM探測器 ? Apollo 40 SDD能譜儀 ? 液氮冷臺，溫度范圍為-185℃- +200℃ ? 液氦冷臺，溫度范圍為6K-300K |
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儀器功能 | ? 可在高真空、低真空（130Pa)、環境真空(4000Pa)下觀察導電和不導電樣品，對材料的表面和橫截面的微觀形貌、成分進 行分析，廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、納米材料等領域； ? 配備的Apollo40 SDD能譜無需液氮制冷，可進行快速的點、線、面分布分析，獲得能譜的mapping圖譜； ? 其樣品室直徑達284 mm，對于直徑達四英寸硅片可以直接進行測試，無需對樣品進行分割處理； |
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檢測案例一 （圖片） | 
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檢測案例二 （能譜） | |
| 樣品要求 | 建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片，如果沒有，檢測要求需詳細填寫。可提供12張圖片：即篩選出三個比較好的區域，每個區域提供3-4張不同放大倍數滿足測試要求的圖片，對于找不到符合測試要求的區域的樣品，我們將會多拍一些區域以證明樣品的真實情況！寄送樣品質量大于20mg。 |
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