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SE-VM光譜橢偏儀

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產品型號SE-VM

品       牌

廠商性質其他

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更新時間：2022-12-28 18:19:19瀏覽次數：613次

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產品簡介

簡要描述：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。

詳細介紹

概述

SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。

產品特點

采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)；

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高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集；

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支持系列配置靈活，可根據不同應用場景支持多功能模塊化定制；
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數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；

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產品應用

廣泛應用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應用,實現光學薄膜、納米結構的光學常數和幾何特征尺寸快速的表征分析。

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建議配件

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溫控臺 Mapping擴展模塊 真空泵 透射吸附組件

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