簡要描述：NS3600 高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司生產的一種可靠的三維（3D）測量高速共焦激光掃描顯微鏡（CLSM）。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，如半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等方面擁有*的解決方案。?NS3600 采用的是638nm 的激光作為光源，測量時無需與樣品表面......

詳細介紹

NS3600三維激光共聚焦顯微鏡

NS-3600是一種可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，如半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等方面擁有*的解決方案。

Features & Benefits（性能及優勢）：

高分辨無損傷光學3D測量自動傾斜補償
實時共焦成像簡單的數據分析模式
多種光學變焦雙Z掃描
大范圍拼接半透明基材的特征檢測
實時CCD明場和共聚焦成像無樣品準備
自動聚焦

Software (軟件）：

Application field（應用領域）：

NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

可測量微米和亞微米結構的高度，寬度，角度，面積和體積，例如

-半導體:IC圖形，凹凸高度，線圈高度，缺陷檢測，CMP工藝

- FPD產品:觸摸屏屏幕檢測，ITO圖案，LCD柱間距高度

- MEMS器件:結構三維輪廓，表面粗糙度，MEMS圖形

-玻璃表面:薄膜太陽能電池，太陽能電池紋理，激光圖案

-材料研究:模具表面檢測，粗糙度，裂紋分析

Specifications（規格）：

Model	Microscope NS-3600					備注
物鏡倍率		10x	20x	50x	100x
觀察/ 測量范圍	水平 (H): μm	1400	700	280	140
	垂直 (V): μm	1050	525	210	105
WD: mm		16.5	3.1	0.54	0.3
數值孔徑(N.A.)		0.30	0.46	0.80	0.95
觀察/測量光學系統		針孔共聚焦光學系統
高度測量	測量掃描范圍	10mm
	顯示分辨率	0.001 μm
	重復率 σ	0.02 μm				注1
寬度測量	顯示分辨率	0.001 μm
	重復率 3σ	0.03 μm				注 2
幀記憶	像素	1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96
	單色圖像	12 bit
	彩色圖像	8-bit for RGB each
	高度測量	16 bit
幀速率	表面掃描	20 Hz to 160 Hz
	線掃描	~8 kHz
激光接收元件		PMT (光電倍增管)
激光	波長	638nm (2mW)
光學觀察照相機	成像元件	彩色圖像 CCD 傳感器
	記錄分辨率	1296x966
數據處理單元		PC
電源	電源電壓	100 to 240 VAC, 50/60 Hz
	電流消耗	500 VA max.
重量	顯微鏡	大約. ~50 kg (測量頭大約: ~12 kg)
	控制器	~8 kg
隔振系統		氣浮隔振				Option