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成像型穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2024-02-16 15:03:31瀏覽次數(shù)：121次

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  光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)

反射率測(cè)量

偏振 | 雙折射成像設(shè)備

膜厚測(cè)量?jī)x

MTF測(cè)量?jī)x/傳函儀

激光干涉儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)150XT型穆勒矩陣是公司研發(fā)的一款高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)，在不到一秒內(nèi)即可實(shí)時(shí)測(cè)得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性

詳細(xì)介紹

穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)

高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)

150XT 型穆勒矩陣是公司研發(fā)的一款高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)，在不到一秒內(nèi)即可實(shí)時(shí)測(cè)得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發(fā)的這款產(chǎn)品對(duì)于科研研究，工業(yè)測(cè)量，光學(xué)組件偏振特性測(cè)量，制造業(yè)生產(chǎn)/質(zhì)檢等領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用可能。整套系統(tǒng)報(bào)包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學(xué)、生物、化學(xué)樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。

Hinds. 穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)，穆勒矩陣測(cè)量，Exicor，Mueller Polarimeter ，150XT,穆勒橢偏儀

高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)使用調(diào)制器和相應(yīng)偏振測(cè)量技術(shù)， 150XT 型穆勒矩陣橢偏儀在不到一秒內(nèi)即可實(shí)時(shí)測(cè)得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發(fā)的這款高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)對(duì)于科研研究，工業(yè)測(cè)量，光學(xué)組件偏振特性測(cè)量，制造業(yè)生產(chǎn)/質(zhì)檢等領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用可能。這套穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)報(bào)包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學(xué)、生物、化學(xué)樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。

產(chǎn)品特點(diǎn)

? 的穆勒矩陣探測(cè)精度（全矩陣）

? 穆勒矩陣16組參數(shù)同步測(cè)量

? 樣品所有光學(xué)偏振特性同步測(cè)量

? 高重復(fù)精度

? 高速測(cè)量

? 系統(tǒng)光路固定（光路部分無(wú)移動(dòng)組件，更穩(wěn)定）

? 對(duì)不同尺寸待測(cè)樣品同樣支持測(cè)量掃描

? 光彈偏振測(cè)量技術(shù)

? 簡(jiǎn)易，人性化操作軟件界面

產(chǎn)品應(yīng)用：

科研/工業(yè)研發(fā)

? 品控/質(zhì)檢測(cè)量

? 如下各種樣品的全偏振特性的測(cè)量：

1. 科研級(jí)復(fù)雜內(nèi)部學(xué)組件

2. 各種雙折射/

3. 復(fù)雜層級(jí)LCD

4. 同晶晶體

5. 各向異性晶體

6. 化學(xué)和生物光學(xué)各向異性材料

7. 由磁場(chǎng)/電場(chǎng)引起的各向異性樣品

規(guī)格參數(shù)

穆勒矩陣 (不同參數(shù)，靈敏度不同)

約3.533 mm厚度 C切割石英板狀樣品沿X-Y軸15°旋轉(zhuǎn)

（0.5°步長(zhǎng)）穆勒矩陣測(cè)量原始數(shù)據(jù)

偏振測(cè)量參數(shù)

關(guān)鍵詞：橢偏儀

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