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CoatAnalyzer離線涂層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

CoatAnalyzer 離線涂層測(cè)厚儀由德國(guó)AIM Systems有限公司研發(fā)生產(chǎn)，采用光熱紅外法技術(shù)原理，可用于實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)產(chǎn)品涂層厚度的離線測(cè)量，其組成包括測(cè)厚儀，支架，電腦以及測(cè)量軟件。

詳細(xì)介紹

Coat Analyzer離線涂層測(cè)厚儀

Coat Analyzer 離線涂層測(cè)厚儀由德國(guó)AIM Systems有限公司研發(fā)生產(chǎn)，采用光熱紅外法技術(shù)原理，可用于實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)產(chǎn)品涂層厚度的離線測(cè)量，其組成包括測(cè)厚儀，支架，電腦以及測(cè)量軟件。

光熱紅外探測(cè)法基本原理：

待測(cè)樣品在調(diào)制光源的激勵(lì)下吸收了光輻射的能量，產(chǎn)生紅外熱輻射即熱波，由于待測(cè)樣品內(nèi)部的多層結(jié)構(gòu)或者自身缺陷而存在分界面特性的差異，導(dǎo)致紅外熱波在通過(guò)分界面時(shí)波形發(fā)生變化，不同層狀結(jié)構(gòu)厚度以及樣品缺陷形貌對(duì)熱波波形變化有不同的影響，通過(guò)探測(cè)反射熱波形的隨時(shí)間變化及相對(duì)激發(fā)光信號(hào)的延遲可以分析得到待測(cè)樣品層狀結(jié)構(gòu)以及缺陷形貌尺寸的信息。

技術(shù)參數(shù)：
- 測(cè)量范圍：3-300微米

- 工作距離：100 ± 30 毫米

- 距離容差：± 50毫米

- 允許探測(cè)角度：± 60°

- 測(cè)量時(shí)間： 1-2秒/點(diǎn)

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
- 無(wú)損無(wú)接觸測(cè)量
- 適用范圍廣：
適用于不同材料上的不同涂層的干膜和濕膜厚度測(cè)量，
可測(cè)量的基材材質(zhì)不限（金屬、塑料、橡膠、復(fù)合材料等)，
可測(cè)量的涂料種類不限（油漆、粉末涂料、粘膠劑、潤(rùn)滑涂層等）
可測(cè)量的涂裝工藝不限

- 可在曲面、粗糙表面和各種厚度的基底上測(cè)量

- 高精度，通常在±0.5µm或更小

- LED光源，使用安全，和激光危害

- 滿足工業(yè)防爆安全區(qū)要求

- 可自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

- 可在線實(shí)時(shí)測(cè)量, 適配于涂裝機(jī)器人

- 設(shè)備維護(hù)成本低

典型應(yīng)用領(lǐng)域

光熱紅外涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域極其廣泛，不受限于涂層的基材材質(zhì)，也不受限于涂裝材料以及涂裝工藝，典型應(yīng)用領(lǐng)域如下：

|| 油漆涂裝領(lǐng)域（例如汽車車身漆層、機(jī)車車身漆層以及零部件漆層的厚度測(cè)量）

|| 塑料涂裝領(lǐng)域（例如塑料外殼、電路板、汽車內(nèi)飾/外飾上的涂層厚度測(cè)量）

|| 卷材涂裝領(lǐng)域（例如鋼卷和鋁卷表面鍍膜厚度的測(cè)量）

|| 粉末涂裝領(lǐng)域（例如在粉末涂裝加熱烘烤前對(duì)膜厚進(jìn)行測(cè)量）

|| 其他涂裝領(lǐng)域（例如橡膠或者復(fù)合材料上的涂層厚度測(cè)量）

|| 用于實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)

關(guān)鍵詞：涂層測(cè)厚儀測(cè)厚儀電路板

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