高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途高低溫沖擊試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等···

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高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途

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高低溫沖擊試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。

設(shè)備核心特點(diǎn)

結(jié)構(gòu)圖

詳細(xì)技術(shù)參數(shù)

型號(hào)					CJ80S3	CJ150S3		CJ225S3
性能參數(shù)	預(yù)熱室		預(yù)熱溫度上限		200℃
			溫度上升時(shí)間		R.T.→＋200℃約40min
	預(yù)冷室		預(yù)冷溫度下限		0～-75℃
			溫度下降時(shí)間		R.T.→-70℃約90min
	工作室		溫度沖擊范圍		高溫60℃～+150℃；低溫-55℃～-10℃
			溫度波動(dòng)度		≤±0.5℃
			溫度偏差		≤±2℃
	溫度回復(fù)時(shí)間				≤5min
	溫度回復(fù) 條件	CJ80S3I		條件一	高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間均30min，樣品重量10Kg鋁。
				條件二	高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5min，低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg鋁。
		CJ80S3II		條件一	高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間均30min，樣品重量20Kg鋁。
				條件二	高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min，樣品重量20Kg鋁。
				條件三	高溫暴露+150℃，低溫暴露-55℃，暴露時(shí)間均30min，樣品重量10Kg鋁。
		CJ150S3I		條件一	高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間均30min，樣品重量20Kg鋁。
				條件二	高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg鋁。
		CJ150S3II		條件一	高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間均30min，樣品重量20Kg 鋁。
				條件二	高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min，樣品重量20Kg鋁。
				條件三	高溫暴露150℃，低溫暴露-55℃，暴露時(shí)間均30min，樣品重量10Kg鋁。
		CJ225S3I		條件一	高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時(shí)間均30min，樣品重量10Kg鋁。
				條件二	高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min，樣品重量10Kg鋁。
		CJ225S3II		條件一	高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時(shí)間均30min，樣品重量20Kg鋁。
				條件二	高溫125℃暴露30min，環(huán)境溫度暴露5 min，低溫-55℃暴露30min，樣品重量20Kg鋁。
				條件三	高溫150℃暴露30min，低溫- 55℃暴露30min，負(fù)載10kg鋁。
結(jié) 構(gòu)	外殼				冷軋鋼板表面噴塑（白）
	內(nèi)膽				不銹鋼板
	隔熱材料				非危廢類環(huán)保型玻璃纖維保溫層
制冷	制冷方式				水冷
	制冷機(jī)				進(jìn)口壓縮機(jī)
測(cè)試孔					左側(cè)Φ50mm 1個(gè)
控制器					日本優(yōu)易控控制器
工作室尺寸(mm)				W	500		600	750
				H	400		500	500
				D	400		500	600
外部尺寸(mm)				W	1460		1560	1710
				H	1840		1940	1940
				D	1500		1600	1700
電源					AC380V 50Hz三相四線制+接地線，保護(hù)接地電阻小于4Ω

關(guān)鍵詞：高低溫沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱芯片制冷機(jī) 壓縮機(jī)

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