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武漢瑞德儀科技有限公司
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TI-980測試方法全面，是多樣化的納米力學表征工具，是科學家、工程師和其他各領域用戶的合適選擇
Hysitron TI 980 納米壓痕儀
布魯克的 Hysitron TI 980 TriboIndenter 同時具有性能、靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺行業的系統以數十年的 Hysitron 技術創新為基礎，在納米力學特性測試方面提供更高水平的非凡性能、增強的功能和的多功能性。Hysitron TI 980 納米壓痕儀是一臺的納米力學測試儀器，在準確控制、測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統模塊化方面都取得了顯著進步。
布魯克的 Hysitron公司的旗艦產品是全功能TI 980型納米力學測試系統，通過納米級位成像，實現了壓痕、劃痕和磨損過程的納米尺度原位可視化表征。Hysitron（海思創）應用其工藝超前的技術“三板電容傳導"，從源頭上保證了儀器穩定性和靈敏度。使用Hysitron（海思創）納米力學材料檢測系統通過探針可以獲得材料微區的硬度、彈性模量、摩擦系數、磨損率、斷裂剛度、失效、蠕變、粘附力（結合力）等力學數據。不僅在微納米水平上開展力學行為特性的研究，還可以進行納米尺寸上的機械加工。TI 980 符合ISO納米壓痕檢測標準以及溫度濕度測量標準。
設備具有微納米尺度上的壓痕、劃痕、摩擦磨損和原位掃描探針成像功能；通過軟件直接實現連續更換不同實驗模式，具有高分辨率，高控制精度，高穩定性的特點。可以完成微/納米尺度上材料力學性能測試和表征，用于產品的研究和開發。可以用于聚合物材料、無機非金屬材料、金屬材料和生物材料的納米壓痕、納米劃痕、摩擦磨損等納米特性測試，獲得相關條件下的硬度、模量、蠕變、屈服、納米磨損性能、粘結失效、斷裂韌性等性能。
一、亮點
1）------精確控制和測試帶寬
提供的反饋控制和噪音水平，實現真正的定量納米機械和納米摩擦特性。
2）同步------多尺度和多技術測量
支持納米壓痕到微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、動態納米壓痕、原位 SPM 成像和高速性能成像。
3）------靈活性和潛在表征能力
提供泛的創新表征技術，通用樣品安裝選項和模塊化系統架構。
二、特點
1）您的特征表征潛力------強大的標準配置
* 原位 SPM 成像；
* 高分辨率光學成像；
* 2D 電容式傳感器；
* 計量級花崗巖；
* 主動防振隔離；
* Performech II 高級控制模塊；
* 環境隔離罩；
* 高速性能成像 （XPM；
* 動態納米壓痕（納米DMA III）；
* 模塊化系統架構；
* 多功能樣品夾頭；
* 高精度樣品臺；
2）強大的納米力學和納米摩擦測試系統------測試模式
a）納米級動態機械分析nanoDMA III
*定量納米尺度深度分析與粘彈性特性測量
布魯克的納米DMA III（納米級動態機械分析）是一種強大的新型動態測試技術，用于進行納米級機械性能測量。nanoDMA III 配備了新開發的 CMX 控制算法，可真正連續測量機械性能，作為材料表面深度的函數。CMX 提供機械性能的定量和真正連續測量，包括硬度、存儲模量、損耗模量、復合模量和損耗角量，作為壓痕深度、頻率和時間的函數。
*強大的納米級動態特性
高帶寬傳感器和控制電子器件針對納米級動態測試進行了全面優化，并提供業界的性能、靈敏度和廣泛的動態范圍。Hysitron 的耦合交流/直流力調制程序可實現真正的納米級機械特性，并且不會受到困擾其他納米級動態剛度技術的緩慢反饋響應時間。nanoDMA III 集成了的參考頻率技術，用于在實驗過程中進行熱漂移校正，從而能夠在納米尺度上可靠地執行長時間的頻率掃描和蠕變測試。
b）定量、超高速機械性能映射------XPM
保守地，傳統的納米壓痕單點測量需要 90 秒，而 20x20 陣列需要 10 個小時才能完成。利用布魯克的新 Hysitron XPM 超快屬性映射，只需 1.1 分鐘即可編譯此數據集！
c）高分辨率的原位 SPM 成像
* 納米精密測試放置精度
布魯克的原位 SPM 成像可提供與測試相同的長度刻度的成像分辨率，從而在納米尺度上實現真正定量和準確的表征。測試現場的預測試 SPM 成像可實現以納米分辨率直接測量表面形態（例如微結構、地形、粗糙度），對于在測試前避免表面缺陷至關重要。高精度 ±10nm 測試位置精度簡化了多相材料的測試，并允許微結構（如形狀、尺寸或域分布）與機械性能直接相關。此外，測試后 SPM 成像提供材料變形行為（如斷裂、堆積）的定量特征和測試位置的驗證。
*分辨率高達 4096 x 4096
布魯克的 SPM® 將納米機械 SPM 成像功能更上一層樓。借助 SPM+，掃描尺寸和圖像分辨率可定制，以滿足您的特定樣本分析需求。
三、優勢
保持您處于材料發現和開發的前沿
TI 980 納米壓痕儀基于布魯克的 Performech II 高級控制模塊，在精確控制和測試帶寬、測試靈活性、適用性、靈敏度、測量可靠性和系統模塊化方面取得了顯著進步。TI 980 強大的基礎配置包括定量納米壓痕和微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、高分辨率原位掃描探針顯微鏡 （SPM） 成像、動態納米壓痕和高速性能成像等，全面了解納米級材料行為。
自動化的簡單和速度
Hysitron TI 980 納米壓痕提供快速、多樣品和多技術自動化測試功能，實現高通量表征。智能自動化程序以用戶定義的周期自動驗證探頭形狀，其高分辨多尺度成像和全樣本光學掃描簡化了測試過程。
面向未來的表征潛力
TI 980 納米壓痕是在開發時基于的靈活性，了解您目前的需求可能會在將來有所不同。TI 980 支持泛的相關納米力學表征技術，有望讓您的研究和材料開發工作始終處于技術前沿。TI 980 納米壓痕儀還帶有多功能系統控制和數據分析軟件、通用樣品安裝平臺（機械、磁性和真空）以及模塊化環境隔離罩相結合，將適應您未來的表征要求。
四、特色選項和附加組件
1） xSol 環境控制腔與載臺------環境控制腔實現了定量納米力學性能和納米摩擦學特征隨著溫度、氣氛和濕度的變化。
2）nanoECR ------納米壓痕測試的原位導電特性可以和納米力學性能，材料形變行為和接觸電阻等同步研究。
3）xProbe------基于 MEMS 傳感器的探針可以實現原子力顯微鏡級別的超低力和位移噪音水平。
4）iTF ------的原位薄膜力學性能分析包提供了排除基底效應影響的薄膜和多層膜結構的定量力學性能。、
5）3D OmniProbe 和多量程NanoProbe------通過擴展力和位移測量量程實現微米尺度的力學和摩擦學特性表征
6）同步拉曼光譜------原位研究力學性能和摩擦學特性與材料結構和化學成分的相關性。
7）熒光顯微鏡聯用------集成熒光顯微鏡可實現熒光共定位納米力學測試等。
8）電化學模塊------實現氧化和還原環境下的原位定量納米力學和納米摩擦學行為研究。
9）自動探針更換模塊------按鈕操作的自動探針更換模塊。
10）樣品臺------ 多尺度的磁性、機械和真空固定方式可以固定幾乎所有待測樣品，包括 300mm 晶圓。
11）TriboAE™------ 聲音傳感器能通過針尖原位監測納米壓痕過程中的斷裂和形變產生的聲音信號。
12）TriboImage™------納米尺度劃痕/磨損的實時表征。
13）模量成像------動態掃描納米壓痕模式提供材料表面的定量、高分辨模量分布。
五、相關圖片
1）布魯克的Hysitron TI 980 nanoindenter 提供業界的噪聲水平，用于接近納米尺度的定量表征，并且具有超快的反饋控制，從而對測試過程進行準確的控制
2) 布魯克的Hysitron TI 980 可實現多測頭同時測量。使用任意組合的兩個傳感器進行無縫測試，實現優化
3）陶瓷材料模量成像結果由 67 秒內的 400 次XPM快速測量獲得
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