自動化飛秒瞬態吸收光譜儀

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更新時間：2024-05-24 08:39:06瀏覽次數：68次

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廣州安特激光技術有限公司

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產品簡介

產品介紹：Helios設計與飛秒激光放大器一起工作，采集14fs-8ns時域的瞬態吸收光譜，包括：基態漂白(GroundStateBleaching)、激發態吸收(ExcitedStateAbsorption)，受激輻射(StimulatedEmission)等光譜信息

詳細介紹

產品介紹：

Helios設計與飛秒激光放大器一起工作，采集14 fs - 8 ns時域的瞬態吸收光譜，包括：基態漂白 (Ground StateBleaching)、激發態吸收 (Excited State Absorption)，受激輻射 (Stimulated Emission)等光譜信息。
　籍此分析單線態能級躍遷引發超快速能量轉移、電子遷移、激發態能級躍遷、熒光輻射等信息。高速智能延時線，采集14 fs - 8 ns，采集~10⁶時域的3D瞬態吸收光譜，需~30 min（5min fire）。10 nJ(10 μW @1 kHz)低能量泵浦，適用于OPV/OLED/AIE等材料研究。大光譜范圍：350 - 2400 nm，標配 450 - 800 nm。CMOS線陣列傳感器，數據采集可與1000 Hz（可選：5,000 Hz）激光器同步。可升級為漫反射(Diffused reflectance)瞬態吸收光譜儀，內置Kubelka–Munk方程計算光吸收，漫反射與透射可以切換使用。

產品參數：

延時分辨率	14 fs
時間分辨率*	1.4 x 激光脈沖時間
時間窗口	8 ns
適合激光頻率	任意
探測波長	450 - 800 nm
	350 - 750 nm
	選配：800 - 1600 nm
	選配：1.6 – 2.4 µm
Vis檢測器	CMOS線陣列傳感器
像素	1024
響應波長	200 - 1000 nm
分辨率	2 nm (50 µm 狹縫時)，4 nm (200 µm 狹縫時)
光譜范圍	600 nm (通常: 350 - 950 nm)
采集速度	2400 條光譜/s，14bit 選配：5000 條光譜/s，16bit (fire)
NIR檢測器	InGaAs線陣列傳感器 (選配)
像素	256
響應波長	800 - 1600 nm
分辨率	5 nm (50 µm 狹縫時)，13 nm (200 µm 狹縫時)
光譜范圍	800 nm (通常: 800 - 1600 nm)
采集速度	2400 條光譜/s，14bit；選配：5000 條光譜/s，16bit (fire)
SWIR檢測器	InGaAs線陣列傳感器 (選配)
像素	256
響應波長	1000 - 2600 nm
分辨率	5 nm (50 µm 狹縫時)，13 nm (200 µm 狹縫時)
光譜范圍	800 nm (通常: 1600 - 2400 nm)
采集速度	2400 條光譜/s，14bit
數據格式	ASCII CSV (兼容Excel)
數據采集軟件	Helios 4.x
數據分析軟件	Surface Xplorer
光學模塊體積 (長寬高)	915 X 610 X 250 mm³
電子模塊體積 (長寬高)	534 X 610 X 686 mm³