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甘沃實業(上海)有限公司
PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設備,采用國際*的白光共聚焦技術,可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復性好的優點,該儀器性價比高,可用于取代傳統的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。
產品特性
采用白光共聚焦色差技術,可獲得納米級的分辨率
測量具有非破壞性,測量速度快,精.確度高
測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒…);
尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
不受環境光的影響
測量簡單,樣品無需特殊處理
Z方向,測量范圍大:為27mm
主要技術參數
掃描范圍:50×50(mm)
掃描步長:0.1μm
掃描速度:20mm/s
Z方向測量范圍:27mm
Z方向測量分辨率:2nm
產品應用
MEMS、半導體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。
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