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蘇州歐億特儀器科技有限公司
品牌: BRUKER型號:MPA FT-NIR 近紅外光譜儀產地: 德國
為質量保證和方法發展而設計的堅固的近紅外光譜儀。該系統配備了一個內部抽樣隔間,用于傳輸測量。Mpa可以通過附加的取樣附件升級,如光纖探針、積分球、外部傳輸單元、自動取樣輪和樣品轉子。為了控制光譜儀的光學和信號處理,需要一個基于 pc 的數據系統。
特點:
外殼: 堅固、密封和干燥的外殼。
干涉儀:堅固,垂直,不受沖擊影響,高穩定性,鍍金的角反射鏡和無磨損軸承,專有的石英涂層分束器:
近紅外光源:風冷近紅外光源(12v,20w)
樣品艙/光纖組件
探測器:高精度熱電制冷InGaas 探測器
光譜范圍:12,800 - 4,000 cm-1
外部傳輸裝置:
探測器:高靈敏度 ingaas 探測器,可選配 si 探測器
光譜范圍:12,800 - 5,800 cm-1,和15,500 - 9,000 cm-1
參數:
分辨率: 2 cm-1
波數重現性:好于 0.04 cm-1
波數精度:好于0.1 cm-1
光度精度:好于0.1% T
光度線性:優于1.00 ± 0.05(斜率) ; 0.00 ± 0.05(偏移)
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