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北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司

  • HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)

    HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)產(chǎn)品介紹HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導(dǎo)體...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2023/2/27 8:28:25 對比

  • HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀

    HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀產(chǎn)品介紹HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀是專門用于硅芯硅棒生產(chǎn)中的硅棒硅芯內(nèi)部的的裂縫、雜質(zhì)...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2023/2/27 8:24:41 對比

  • 款無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3I

    產(chǎn)品介紹:MWR-2S-3I是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描測試儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:47:49 對比

  • 紅外探傷儀：NIR-01

    紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產(chǎn)中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質(zhì)、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:42:04 對比

  • 無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3

    合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強大，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:39:21 對比

  • 型號測試儀：HS-HCTT

    產(chǎn)品介紹：本儀器是嚴(yán)格按照ASTMF42（非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型的標(biāo)準(zhǔn)測試方法）中的熱探針設(shè)計的便攜式導(dǎo)電型號鑒別儀
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:33:04 對比

  • 大量程電阻率測試儀：HS-POSRT

    產(chǎn)品介紹：合能陽光的原生多晶電阻率測試儀(HS-POSRT)，是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:28:40 對比

  • 無接觸式電阻率型號測試儀：TRM-100

    無接觸式電阻率型號測試儀TRM-100是基于渦流（EddyCurrent）測試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋簟⒐桢V及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:05:31 對比
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