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概述：
2002年1月9日日本東京--株式會社愛德萬測試（TSE:6857，NYSE:ATE），在測試和測量工業(yè)具有地位，宣布開始銷售R3860A射頻分析儀，它的測試速度10微秒／點，在世界上是總磷快的，將用于研發(fā)實驗室、測試無線電通信設(shè)備以及相關(guān)的電子元器件。R3860A是愛德萬測試的新測試設(shè)備列中總磷先投產(chǎn)的，并基于這一列產(chǎn)品的WMT（Wizard of Module Test）構(gòu)架。
因為對第三代及之后的第四代移動通信設(shè)備的應(yīng)用越來越成為主流，以預(yù)示著無線電通信設(shè)備和RF部件的技術(shù)革新進程將會加快，另外，因為實現(xiàn)高產(chǎn)能和低測試成本。
愛德萬R3768網(wǎng)絡(luò)分析儀概述：
2003年7月25日，日本東京Advantest宣布用于移動通信網(wǎng)絡(luò)和無線域網(wǎng)中的高頻電子元器件的研發(fā)和生產(chǎn)的R3770、R3768網(wǎng)絡(luò)分析儀發(fā)布。這兩款新型提供5ms/point的業(yè)內(nèi)的測試速度大大的推進了制造業(yè)的生產(chǎn)能力。
在寬帶網(wǎng)絡(luò)不斷發(fā)展的，移動和無線域網(wǎng)在家庭和辦公場的使用正在變得越來越流行。然而，由于射頻頻譜的有限性，為了適應(yīng)數(shù)據(jù)通信的隨之的增長，一個新的更緊迫的無線通信規(guī)范正在形成以確保射頻帶寬的有效使用。當研發(fā)和生產(chǎn)的射頻元器件用于的無線通信統(tǒng)成為必要時，企業(yè)因此要確保他們的產(chǎn)品符合嚴格的規(guī)范，同時還要提高測試處理能力。
為了加速無線通信元器件的設(shè)計和生產(chǎn)，R3770和R3768網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了業(yè)內(nèi)總磷快的測試速度。125db的寬動態(tài)范圍使得它能夠用于諸如需要高精度規(guī)格的移動通信基站用濾波器這類高頻電子元器件的的、可靠的測量。此外，由于R3770和R3768使用了Advantest的WMT模塊結(jié)構(gòu)，這使得它們能夠很容易能擴展到總磷大四端口輸入輸出。
R3770 網(wǎng)絡(luò)分析儀
頻率范圍從300kHz到20GHz，它非常適合用于WLAN和移動通信基站中高頻無源器件的特性分析。
R3768 網(wǎng)絡(luò)分析儀
頻率范圍從300kHz到8GHz，它是主要針對濾波器以及其他8GHz帶寬內(nèi)RF元器件的測試的。
主要規(guī)格：
頻率范圍： 300KHz - 20GHz (R3770)
300kHz - 8GHz (R3768)
輸出功率： 總磷大 13dBm
掃描速度： 5ms/point
端口數(shù)目： 標配2端口（可擴展到4端口）
動態(tài)范圍： 125dB
R3767CG-R3767CG網(wǎng)絡(luò)分析儀 R3767CG二8G愛德萬網(wǎng)絡(luò)分析儀
范圍：300kHz～3.8GHz （R3765CG）
300kHz～8GHz （R3767CG）
的多端口器件測量
高速掃描時間：150μs/點（在2端口全校準條件下）
內(nèi)置3端口或4端口測試裝置（選件）
軟件夾具（選件）
阻抗轉(zhuǎn)換（選件）
端口轉(zhuǎn)換（選件）
匹配網(wǎng)絡(luò)（選件）
R3767CG/R3765CG網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)指標
掃描通道 2通道 （CH1，CH2）
顯示通道 4通道 （CH1，CH2，CH3，CH4）
軌跡 2軌/通道 （8蹤顯示）
測量參數(shù) S11，S21，S12，S22
OPT.11/13：S11，S22，S33，S21，S12，S31，S13，S23，S32
OPT.14：S11，S22，S33，S44，S21，S31，S41，S12，S32，
S42，S13，S23，S43，S14，S24，S34
根據(jù)參數(shù)算出阻抗（Z），導(dǎo)納（Y）計算
測量格式 直角坐標表示：振幅 （線性/對數(shù)），相位，群延時，VSER，
復(fù)數(shù) （實部/虛部）
史密斯圖：光標值，線性/對數(shù)，相位，復(fù)數(shù) （實部/虛部），R+jX，
G+jB
Polar極坐標表示：光標值，線性/對數(shù)，相位，復(fù)數(shù) （實部/虛部）
針對不同應(yīng)用的可選擇佳統(tǒng)
根據(jù)你應(yīng)用需要可以從R3767列中選擇出佳型號。
A型提供了內(nèi)置信號隔離器和兩個輸入終端，可同時進行兩個器件的測量。將A型連接到選件雙工器測試
裝置上，它可以用在提前部，用三個端口（AND、RX和TX端口）進行雙工器測量。當作為選件功放
測試裝置的組成部分時，主可以修正并可同選件VIGs連用，這樣提的功放就可以測量了。在這種
情況下，A型可以滿足多種應(yīng)用場合。
B型裝有功分器和SWR電橋，能夠同時測量傳輸和反射。當使用B型時，通過校準1口就可實現(xiàn)高精度測量。
C型裝有S參數(shù)測試裝置，這種裝置提供了功分器和兩個SWR電橋以及一個用于正向/反向轉(zhuǎn)換的半導(dǎo)體轉(zhuǎn)換
開關(guān)。在自動反向模式中，C型可以高精度測量正向特性（S11和S21）和反向特性（S22和S12）。
作為統(tǒng)的組成成分
32字×8行的熒光屏顯示
獨立應(yīng)用
7.8英寸TFT彩色LCD
0.15ms/點的高速掃描
在電介質(zhì)濾波器、SAW濾波器、隔離器、環(huán)行器、功率放大器、" style="margin: 0px; padding: 0px 3px; font-weight: normal;">天線和其它電子元件的生產(chǎn)線的測量統(tǒng)
產(chǎn)量是一個至關(guān)重要的參數(shù)。R3767列能夠?qū)崿F(xiàn)0.15ms/點（10kHz RBW和歸一化校準）或0.25ms/點
（10kHz RBW和2端口校準）的掃描速度。
具有4通道和8跡線的多功能顯示
由于具有4通道和8跡線顯示功能，R3767C列能夠在直角坐標和極性坐標中用Smith圓圖對2端口器件的
四個S參數(shù)（S11，S21，S22和S12）同時進行顯示，這樣就便于對測量數(shù)據(jù)進行快速分析。而且，具有TFT
彩色LCD的R3767列網(wǎng)絡(luò)分析儀通過使用重疊數(shù)據(jù)顯示和限制線功能可以對數(shù)據(jù)進行識別。
100dB寬動態(tài)范圍
作為信息和通訊設(shè)備用于窄帶和高頻測量時，它內(nèi)部裝有用于測量電介質(zhì)和SAW濾波器的更高、更真實性能
指標的指令。R3767列的100dB寬動態(tài)范圍（10Hz RBW）非常適合于測試這類電子元件，例如測量通常的
波紋和阻帶的失真信號。
針對不同RBW和輸出電平的標準程序掃描功能
程控掃描功能可以設(shè)置掃描頻率以及改變分辨率帶寬和輸出電平。在測量濾波器特性時，通過改變分辨率
帶寬和輸出電平可以實現(xiàn)通帶和阻帶中的更快速和更的特性測量。
R3767CG列網(wǎng)絡(luò)分析儀詳細介紹:
R3767CG列8GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠快速和地測量幅度、相位、群延遲和阻抗。測量的頻率范
圍為40MHz（300K）~8GHz。由于它具有新高速信號處理結(jié)構(gòu)，R3767列網(wǎng)絡(luò)分析儀可以進行10kHz RBW
（IF帶寬）的0.25ms/點的快速測量。R3765列可應(yīng)用于生產(chǎn)線或工程中。列包括三種型號：A型
（基本型），B型（內(nèi)置電橋）和C型（內(nèi)置S參數(shù)測試裝置）。
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