x熒光(x-ray)鍍層測厚儀的工作原理是利用x射線對金屬表面進行激發,檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。
Thick 680 x熒光(x-ray)鍍層測厚儀是天瑞根據多年的貴金屬檢測技術和經驗,以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要,人性化的設計,使測試工作更加輕松完成
性能特點
專業貴金屬檢測
智能貴金屬軟件,與儀器相得益彰
任意多個可選擇的分析和識別模型
多變量非線性回收程序
技術指標
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線管:管電壓50KV,管電流1mA
可測元素:Ti~U
檢測器:正比計數管
樣品觀察:CCD攝像頭
測定軟件:薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm
標準配置
X射線管,正比記數盒,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。