J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統比較符合行業的要求和市場的需求性，在所有采樣點上提供相同的激光通量，并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕，可以快速繪制元素圖，J200采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化，分析人員可應用單變量或多變量校準模型進行準確的定量分析，特定的搜索標準(波長范圍、元素組、等離子體激發狀態)可以用來在短時間內縮小搜索范圍。
元素的快速深度剖析：
在目標點的重復激光采樣過程中，Clarity LIBS分析軟件中的DepthTracker?能瞬時監測所選元素的LIBS發射峰值強度，揭示不同樣品深度處元素組成的變化。DepthTracker?對于確定樣品表面的污染物、執行涂層分析、了解薄膜結構以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能。
微粒沖洗性能：
根據測量目標(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要對樣品室的各個性能指標進行優化，指標包括：沖洗時間、顆?；旌稀悠肥覂鹊牧鲃犹匦?。
J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統用完整的或特定范圍的LIBS光譜、質譜圖，分析人員可創建譜庫，構建有效、多元的校準模型，以準確檢測未知樣品的元素濃度，通過參考標準濃度值直接賦值給LIBS或ICP-MS強度，單變量校準曲線可輕松生成，雙攝像機，一個于高倍成像，另一個用于樣品表面的廣角觀察，雙路高精度數字質量流量控制器和電子控制閥門，硬件部件的全面控制與測量自動化。
