雙面電池問(wèn)題：
將電池的后側(cè)改為光蓋，被發(fā)現(xiàn)使雙面PERC電池和模塊對(duì)后側(cè)的新型PID敏感，即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機(jī)制(PID-c)。
解決方案：
為了測(cè)試電池的這些類(lèi)型的PID，我們開(kāi)發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對(duì)完整的電池進(jìn)行壓力測(cè)試，它可以在兩個(gè)方向上進(jìn)行極化。通過(guò)測(cè)量照明下的IV曲線(xiàn)，可以確定PID的靈敏度。
應(yīng)用：
太陽(yáng)能電池片PID檢測(cè)
HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽(yáng)能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。
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PIDcon bifacial的特點(diǎn)：
● 符合IEC62804-TS標(biāo)準(zhǔn)
● 易于使用的臺(tái)式設(shè)備
● 能夠測(cè)量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊
● 無(wú)需氣候室
● 無(wú)需層壓電池
● 測(cè)量速度:小時(shí)至數(shù)天
● 可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、漏電流、濕度、溫度
● 太陽(yáng)能電池可以在以后通過(guò)EL等進(jìn)行研究
● 基于IP的系統(tǒng)允許遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持從世界任何地方
標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件:
● 電壓:upto1.5kV
● 溫度:85°C
● 測(cè)試時(shí)間:4hours(typical)
● 干燥條件下，不需要水
類(lèi)型 受壓 恢復(fù)
PID-s正面 85°C，+1.5 kV 85°C，-1.5 kV
PID-p背面 85°C，+1.5 kV，無(wú)照明 85°C， 暗儲(chǔ)存或光照
PID-c背面 85°C，+1.5 kV， 照明 不可恢復(fù)
層壓 150°C，20min
樣品尺寸 210×210mm
適用于 A PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz
資質(zhì)認(rèn)證 根據(jù)ISO9001準(zhǔn)則制造，符合CE標(biāo)準(zhǔn)
參考文獻(xiàn)： cells (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163
(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic
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(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).
(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells
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(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.
(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.
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2010年*報(bào)道了晶硅太陽(yáng)能組件在高壓影響下的故障。受影響的太陽(yáng)能電池顯示分流電阻度降低。這種效應(yīng)被稱(chēng)為電位誘導(dǎo)降解（PID）。
到目前為止，PID測(cè)試主要在模塊上進(jìn)行。模塊制造和氣候室測(cè)試需要大量的材料、設(shè)備和工作費(fèi)用。
PIDcon是與FraunhoferCSP合作開(kāi)發(fā)的，目的是結(jié)合已建立的測(cè)試程序的優(yōu)點(diǎn)：基于模塊的PID測(cè)試等現(xiàn)實(shí)的PID測(cè)試條件，以及較低的時(shí)間和成本支出。
