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日本spectra USB簡(jiǎn)易膜厚測(cè)量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness 由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根據(jù)光的光譜信息計(jì)算薄膜厚度，...

日本skinos便攜式汗液計(jì)SMN-1000A5尺寸的外殼使其易于攜帶和使用。除了交流適配器外，它還可以使用 4 節(jié) AA 電池運(yùn)行。

日本kurabo樹(shù)脂涂層測(cè)厚儀RX-2500用于控制鋼板上樹(shù)脂涂層的厚度和涂油量。我們還有一個(gè)型號(hào)（RX-4000），可以測(cè)量無(wú)機(jī)成分，如氧化膜和各種微量成分。

日本kurabo光學(xué)膜測(cè)厚儀RX-1000Kurabo Industries 的測(cè)量解決方案，支持液晶和有機(jī) EL 顯示器的薄膜質(zhì)量。我們始終如一地支持 (*)...

日本kurabo復(fù)合薄膜測(cè)厚儀RX-2000/2000L在不受基材影響的情況下，僅針對(duì)粘合劑進(jìn)行測(cè)量。它還可以用于管理粘合劑的混合比例和適用期，這對(duì)于防止通縮是...

日本kurabo紅外線電池隔膜測(cè)厚儀RX-4100不僅可以測(cè)量鋰離子電池的隔膜基膜，還可以分別測(cè)量各層的各種耐熱涂層的厚度。

日本custom手持式金屬鍍層膜厚計(jì)TG-01U可以測(cè)量鐵基的膜厚儀。方便攜帶的尺寸。

日本ewig塑料瓶自動(dòng)測(cè)厚儀PA-2000SA重復(fù)精度± 10 μm以內(nèi)可測(cè)量高度可測(cè)量 320 毫米口內(nèi)徑可測(cè)量35φ測(cè)量多種材料PE / PEN ...

日本ewig飲料瓶自動(dòng)測(cè)厚儀PA-2000SA新的測(cè)厚機(jī)采用紅外線技術(shù)，在精度、速度、安全性和擴(kuò)展性方面都非常出色。也可以選擇廣口瓶。像往常一樣，使用黑體作為光...

日本ewig PET瓶容量測(cè)量?jī)xEH-5500W設(shè)置瓶、重量（通過(guò)電子天平）和水溫（供水路徑中的溫度傳感器）被測(cè)量。接下來(lái)，測(cè)量風(fēng)味的重量和容量。此外，容量是通...

日本ewig便攜式超聲波測(cè)厚儀 UTM-110 / 210UTM-110 / 210 是 1973 年開(kāi)發(fā)出的一臺(tái)袖珍型超聲波測(cè)厚儀的東京計(jì)機(jī)自豪地交付的先進(jìn)機(jī)...

日本ewig PET瓶水量自動(dòng)測(cè)量?jī)xEH-5500W該設(shè)備自動(dòng)測(cè)量PET瓶的含水量，并實(shí)時(shí)輸出和匯總數(shù)據(jù)。可通過(guò)機(jī)器人的 I/O 信號(hào)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)支持（訂購(gòu)時(shí)可選...

日本ewig瓶坯自動(dòng)測(cè)厚儀EH-8000它是一種自動(dòng)測(cè)量PET瓶坯厚度并實(shí)時(shí)輸出和匯總數(shù)據(jù)的測(cè)量機(jī)。

日本ewig PET瓶自動(dòng)測(cè)厚儀PA-2000SA還提供軟件，可根據(jù)測(cè)量高度改變圓周方向的測(cè)量位置。此外，還可以使用原始軟件進(jìn)行一鍵聚合。任何人都可以輕松測(cè)量并...

日本dip coater膜厚計(jì)AFW-100W推薦使用反射光譜膜厚計(jì)用于膜厚測(cè)量應(yīng)用，例如硬涂層。

日本filmetrics對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F60F60自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是F50的高duan機(jī)型，具有缺口檢測(cè)、自動(dòng)基線功能和互鎖機(jī)制。只需將樣品放在載物臺(tái)...

日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50F50自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)。以過(guò)去無(wú)法想象的速度測(cè)量...

日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng)F3-CSF3-CS是測(cè)量小樣品的測(cè)量系統(tǒng)。與測(cè)量臺(tái)集成的測(cè)量系統(tǒng)使其易于攜帶。只需將樣品的測(cè)量面朝下放置在載物臺(tái)上即可...

日本filmetrics板厚測(cè)量系統(tǒng)F3-sX可以高精度測(cè)量硅基板和玻璃基板的厚度。通過(guò)安裝初開(kāi)發(fā)的具有高波長(zhǎng)分辨率的光譜儀，可以測(cè)量高達(dá) 3 mm 的厚膜。

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RTF10-RT 是一款集成了測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)?？赏瑫r(shí)測(cè)量反射率和透射率，并可輕...