- JXA-iHP200F場發射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更*的一體化集成FE-EPMA。
產品規格：
檢測元素范圍：
WDS: Be＊1 / B to U,
EDS: Be to U
檢測X-ray 范圍：
波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm
能量范圍EDS: 20 keV
譜儀數：WDS: 5個可選, EDS: 1個
樣品尺寸：100 mm × 100 mm × 50 mm (H)
加速電壓：1 to 30 kV (0.1 kV steps)
探針電流范圍：1 pA to 3 μA
探針電流穩定性：± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2
二次電子像分辨率（觀察模式）：2.5 nm
二次電子像分辨率（分析模式下）：
20 nm（ 10 kV, 10 nA）
50 nm（ 10 kV, 100 nA）
掃描放大倍率：×40 to 300,000 (W.D. 11 mm)
掃描圖像分辨率：Maxium 5,120 × 3,840
場發射電子探針顯微分析儀產品特點：
電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業領域，作為研究開發和*的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學術領域 ，地球空間科學、材料科學領域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進行觀察分析操作，是更*的一體化集成場發射EPMA。
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