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北京金拓豐儀器設備有限公司
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MarSurfXC20為輪廓評估的產品
MarSurf XC 20 為輪廓評估的產品。開始于 30 年前的 Konturograph 產品 - 由驅動裝置和 X-/Y-記錄儀構成 #96 現已通過技術發展為優秀質量的輪廓測量系統。微調的設備配置可提供的性能標準。驅動裝置和測量立柱通過可靠的測量和評估軟件進行控制和定位。
| 接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
| 測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
| 測量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
| 針尖半徑 | 25 µm |
| 掃描長度末尾（X 方向） | 200 mm |
| 分辨率 | Z 方向，相對探針針頭：0.38 µm（350 mm 測桿）/ 0.19 µm（175 mm 測桿） 在 Z 方向，相對于測量系統：0.04 µm |
| 掃描長度開始（X 方向） | 0.2 mm |
| 取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至 88°，前緣高至 77° |
| 定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
| 導塊偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
| 測量范圍 mm | （Z 方向）50 mm |
| 掃描長度（文本） | 0.2 mm 至 200 mm |
| 測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中設置 |
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