phoenix的micromelx neo和nanomelx neo 系列產品將高分辨率的2D X射線技術和3D CT技術地集成于一套系統。多項的創新設計,以及的定位精度,使得這套系統成為科學研究、缺陷分析、過程和質量控制等領域可靠有效的解決方案。
全新鉆石靶材
| FLASHTM
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Planar CT平面CT系統,提供切片以及整個立體結構的影像
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左上:完成Planar CT 后,無上下重迭影像 右下:傳統2D影像,影像重迭較難分析 |
標準CT計算機斷層掃描
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打線影像 |
項目 | 規格 |
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電壓 | 180 kV |
功率 | 15 W |
燈絲 | 預校正燈絲系統,簡單快速更換燈絲,不需要校正 |
靶材 | 傳統鎢靶材(可選配鉆石靶材) |
細節分辨率 | 可達0.2um |
X光管類型 | 開放式微米射線管 |
探測器 | 高動態反應的Waygate Technologies DXR250RT平板探測器 |
100um超小像素尺寸的平板探測器 | |
幾何放大倍率 | 1,970x |
27吋屏幕總放大倍率 | 2700x |
檢測區域 | 460 mm x 360 mm (18"*14")有旋轉平臺 610 mm x 510mm (24" x 20")無旋轉平臺 |
樣品尺寸/重量 | 680 mm x 635 mm (27" x 25") / 10 kg (22 lbs.) |
傾斜角度和旋轉 | 可持續調整斜視角度到70° 旋轉角度0°-360° |
操作方式 | Joystick或鼠標(手動模式),CNC (自動模式) |
操控輔助 | 檢測過程中,點擊’n-to-move功能,點擊’n-zoom-to 功能,操控機構保證樣品等中心運動 |
定位輔助 | 雷射十字定位 |
防碰撞系統 | 雷射自動防碰撞系統(可手動取消提升提高放大倍率) |
設備尺寸(寬度*高度*深度) | 2,160 mm x 1,920 mm x 1,590 mm (85" x 75.6" x 62.6"), (不包括控制平臺) |
總量 | 大約3,100 kg / 6,835 lbs. |
輻射安全 | 全機防輻射安全機柜,依據德國Rö和美國性能標準21 CFR Subchapter J.,輻射安全機柜可達防護程度,不需要其他形式的認證。但因地區所制定的限制或許可證不在此限。 |
圖像處理軟件 | phoenix x|act:基于CAD導入功能的x射線檢測軟件包含了影像增強處理功能,測量功能,以及簡便快速的基于CAD數據的自動定位檢測程序。 bga|模塊(標準):直觀的BGA焊點自動分析 vc|模塊(標準):直觀的空隙自動計算軟件,包括多重芯片的貼裝檢測 |
軟件配置(選配) | x|act BGA檢查模塊:基于CAD數據的BGA焊點自動分析 x|act PTH檢測模塊:基于CAD數據的PTH焊點自動分析 qfp|模塊:自動檢測QFP焊點 qfn|模塊:自動檢測QFN/MLF焊點 pth|模塊:自動檢測PTH焊點 c4|模塊:在背景結構下的圓形焊點分析,如C4凸點 ml|模塊:多層線路板的檢測 質量|評審:用于返工和缺陷顯示的可視化模塊 Flash!TM:Waygate Technologies*的影像優化技術 |
planarCT 模塊:非破壞性平板二維切片和三維數據分析包括3D|viewer software | |
硬件配置(選配) | 傾斜/旋轉單元:傾斜± 45° 與連續360°旋轉,樣品載重2kg 手動條形碼掃描儀:用于產品識別 |
CT功能(選配) | 數據采集/重建軟件:phoenix datos|x 結合二維與三維(CT) 操作的升級模塊 CT 操控單元:高精度旋轉軸 幾何放大倍率:100 x (CT) 體素分別率:可達2 微米,依實際尺寸而定 nanomelx可以實現nanoCT®功能,提供更高的影像鋭利度 |
? SMT廠
? IC廠 ??????
?? BGA基板
?? 精密零組件
?? 電子零件
?? PCBA組裝
?? 半導體封裝
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?? 精密零組件
?? 電子零件
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?? 半導體封裝