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原子力顯微鏡/掃描探針顯微鏡

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更新時間：2021-06-29 17:07:26瀏覽次數：244次

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原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱

原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。 

       
       
      新開發的可快速響應的HT掃描器加之軟件與控制系統設計的優化，成功實現掃描速度比傳統設備快5倍以上。 
       
       
          
       
       
      樣品交換時也可保持激光穩定照射懸臂。照射穩定性優異，分析時間也大幅度縮短。 
       
       
      可從不同角度放大拉伸圖像進行確認。鼠標操作簡單，更可進行3D斷面形狀分析。 
          
       
       
      按照操作指南指導操作順序，使用導航功能直接鎖定觀察位置，實現了SPM的快速簡便的觀察 
       
       
      具備豐富的測定模式和優異的擴展性，可對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。 
       
       控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
      可以控制樣品和周邊環境，在可控氣氛下進行樣品處理，并直接進行SPM觀察。

      選配系統具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。 
       粒度分析軟件
      從圖像數據中選取復數顆粒，對每一顆粒進行特征量的計算，并進行分析、顯示，以及及進行統計處理。
       
       超微小硬度計復合型SPM系統SPM+TriboScope（TriboScope為美國Hysitron公司產品） 可以進行極薄膜的硬度試驗和壓痕試驗。
       微小部熱分析試驗儀器復合型SPM系統 SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產品）可以進行樣品表面的三維形貌觀察和點的熱分析。 
       
      觀察模式 標準 
      接觸模式
      動態模式
      相位模式
      水平力模式（LFM）
      力調制模式
      矢量掃描模式 
      選購件 磁力（MFM）模式）
      電流模式
      表面電位（KFM）模式 
      分辨率 XY 0.2 nm 
      Z 0.01 nm 
      AFM頭部 位移監測系統 光源/光杠桿/檢測器 
      光源 激光二極管（On/Off均可）
      更換樣品無需調整光路 
      檢測器 光敏二極管 
      掃描器 驅動元件 管狀壓電元件 
      掃描范圍
      （X*Y*Z）       		30μm×30μm×5μm　（標準）
      125μm×125μm×7μm　（選購）
      55μm×55μm×13μm　（選購）
      2.5μm×2.5μm×0.3μm　（選購） 
      樣品臺 樣品形狀 φ24mm×8mm 
      樣品裝載方式 頭部滑動機構
      懸臂安裝狀態下可直接裝載樣品 
      樣品固定方式 磁性固定 
      Z軸驅動機構 驅近方式 全自動驅近 
      可驅近范圍 10mm 
      信號顯示板 顯示量 檢測器的總入射光量（數字顯示） 
      減震機構 減震臺 SPM單元內置 
      光學顯微鏡觀察 方式 分束器滑動機構 
      專用風擋 方式 無需或者使用氣氛控制腔體 
      氣氛控制 方式 無需改造SPM單元可直接導入氣氛腔體 
      
							
				            
				        
                                            
				        
      
				            
				            				            				            
      
				                
      
				                    
       
       
      
				                
      
				                
      
				                    
      原子力顯微鏡/掃描探針顯微鏡
      
				                     原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察
				                
      
				            
      
				            				            				            				            
      
				                
      
				                    
       
       
      
				                
      
				                
      
				                    
      電子探針系列
      
				                     “TheGrandEPMA”誕生搭場發射電子光學系統將島津EPMA分析
				                
      
				            
      
				            				            				        
      
				    

				
			
		

               
        

		

		        



  
    
    				
			 
    
    

    

     
      
     
	 

 	
	
	

      
	
      
		
      
			
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